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设备详情

原子力显微镜

Atomic Force Microscope

 

型号:德国Bruker Dimension ICON

功能:用于表征材料表面形貌特征。

技术参数:

XY方向扫描范围:90µm×90µm

Z方向扫描范围:14µm

具备多种成像模式,包括闭环模式、智能模式、接触模式、轻敲模式。

功能附件:磁力显微镜、侧向力显微镜、调频和高压开尔文探针显微镜。

 

Model: Bruker Dimension ICON

Function: Used to characterize the surface morphology of materials.

Technical Parameters:

X-Y scan range: 90µm x 90µm typical

Z range: 14µm typical in imaging and force curve modes

AFM modes: close-loop mode, smart imaging mode, tapping mode, contact mode.

Accessories: Magnetic Force Microscopy, Lateral force microscopy, Frequency modulation and High-voltage Kelvin Probe Force Microscopy .


地址:北京市海淀区苏家坨镇翠湖南环路13号院中关村翠湖科技园2号楼

邮编:100095 电话:010-83432600

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