场发射环境扫描电子显微镜

Field-Emission Environmental Scanning Electron Microscope

型号：美国FEI Quattro S

功能：用于材料表面、断面形貌观察，微区成分定性定量分析。

技术参数：

﹡分辨率：1.0nm（30KV, SE）

﹡附件：X射线能谱仪（EDS）、电子背散射衍射仪（EBSD）

﹡放大倍数：300万倍

Model: FEI Quattro S

Function: Used for observation of surface and section morphology of materials, qualitative and quantitative analysis of components in microregions.

Technical Parameters:

﹡Resolution: 1.0nm(30KV, SE)

﹡Accessories: Energy Dispersive Spectrometer, Electron Backscattered Diffraction

﹡Magnification: 3,000,000×